李笑


讲师

基本信息

性别:男

出生年月:19835

出生地点:安徽萧县

民族:汉

政治面貌:群众

职称:讲师

电子邮箱:lixiao@btbu.edu.cn

联系地址:北京市海淀区阜成路33

           北京工商大学理学院物理系

邮政编码:100048

学习和工作经历

20136月至今:北京工商大学理学院物理系

20108-20135月:北京化工大学理学院 博士后

20058-20107月:材料学 博士 中国科学院上海光学精密机械研究所 中国科学院强激光材料重点实验室

20058-20067月:中国科学技术大学 材料科学与工程系 硕士基础课程学习

20019-20057月:材料物理 学士 湖南大学 材料科学与工程学院

研究领域

1)激光薄膜损伤:激光薄膜的损伤机制、激光薄膜损伤测试方法

2)激光薄膜激光预处理:激光薄膜激光预处理效应、激光预处理机理、激光预处理系统及方法

 

3)激光薄膜中损伤缺陷的表征:缺陷特征参数的提取方法(理论方法及实验测试方法)

学术论文

1. Xiao Li*, Baohe Li, Jianda Shao, The characteristic parameters of initiating defects in HfO2/SiO2 high-reflector multilayer thin film at wavelength of 1064 nm. Eur. Phys. J. Appl. Phys., 67: 30301, 2014.

2. X. Li*, L.-B. Kong, Z.-L. Hou, and J.-D. Shao, The application of laser-induced damage spot size effect for laser conditioning mechanism. Eur. Phys. J. Appl. Phys., 59, 20301, 2012.

3. Xiao Li*, Yuanan Zhao, Xiaofeng Liu, Jianda Shao, Zhengxiu Fan, The influence of laser-conditioning on defects of HfO2 mono-layer films. Chin. Opt. Lett., 8(6), 615-617, 2010.

4.Xiao Li*, Xiaofeng Liu,Yuanan Zhao, Jianda Shao, Zhengxiu Fan, Investigation of laser-conditioning mechainism of ZrO2/SiO2 HR films with fitting damage probability curves of laser-induced damage. Chin. Opt. Lett., 8(6), 598-600, 2010.

5. Xiao Li*, Lingbao Kong, Zhiling Hou, Zhuo Chen. A new retrieval method of damage defect density in optical thin films. Indian. J. Pure. Ap. Phy., (Accepted).

6. 李笑*,刘晓凤,单永光,赵元安,邵建达,范正修,激光预处理氧化锆-氧化硅1064高反膜的机理,光学学报. 30(8), 2284-2289, 2010.

7.李笑*,刘晓凤,赵元安,邵建达,激光预处理对SiO2单层膜中缺陷的影响.中国激光. 37(8), 1626-1630, 2010.

8. Zhi-Yu Luo, Qing Wang, Xiao Li*, Jian Jin, Dirac oscillator in noncommutative phase space and (anti)-jaynes-cummings models. Int. J. Theor. Phys., 51, 2143-2151, 2012.

9. Xiaofeng Liu, Dawei Li, Yuan’an Zhao, Xiao Li*, Xiulan Ling, Jianda Shao, Automated damage diagnostic system for laser damage threshold tests. Chin. Opt. Lett., 8(4), 407-410, 2010.

10. Xiaofeng Liu, Dawei Li, Yuan’an Zhao, Xiao Li*, Jianda Shao, Characteristics of nodular defect in HfO2/SiO2 multilayer optical coatings. Appl. Surf. Sci., 256(12), 3783-3788, 2010.  

11. Xiaofeng Liu, Dawei Li, Yuan’an Zhao, Xiao Li*, Further investigation of the characteristics of nodular defects. Appl. Optics., 40(10), 1774-1779, 2010.  

12. Xiaofeng Liu, Dawei Li, Yuan’an Zhao, Xiao Li*, Xiulan Ling, Jianda Shao, Damage characteristics of HfO2/SiO2  high reflector at 45 degrees incidence in 1-on-1 and N-on-1 tests. Chin. Opt. Lett., 8(1), 41-44, 2010.

13. XU C, Li X*, Dong HC, Jin YX , He HB, Shao  JD, Fan, ZX,Laser induced damage threshold at 355 and 1064 nm of Ta2O5 films of different phases. Chin. Phy. Lett.,. 25(9), 3300-3033, 2008.  

14. HOU Zhi-Ling, KONG Ling-Bao,, JIN Hai-bo, CAO Mao-Shen, LI Xiao*, QI Xin, The Comprehensive Retrieval Method of Electromagnetic Parameters Using Scattering Parameters of Metamaterials for Two Choices of Time-Dependent Factors. Chin. Phy. Lett., 29(1), 017701-1-017701-4, 2012.


学校主页 | 本站首页 | 资料下载 | 在线留言
阜成路校区:010-68985292  良乡校区:010-81353678 邮箱:songsx@btbu.edu.cn
版权归 北京工商大学理学院 所有